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穩態/瞬態熒光光譜系統TPL300成像模塊功能：熒光強度/壽命/光譜成像、載流子遷移成像、光電流成像。

飛秒熒光,飛秒時間分辨太赫茲光譜,時間分辨熒光光譜,超快時間分辨太赫茲光譜系統THZ100自動化系統：全自動光路切換、自動化光路校準；充氮樣品倉：支持溶液、薄膜、粉末樣品。

超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統UPSI100主要利用調節pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上，樣品表面會產生一定程度的損毀，由于本過程很快（p...

MICRO LED晶圓級綜合檢測系統明場/PL檢測類型：明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。

鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統檢測時間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。

碳化硅成像檢測,SiC晶圓質量成像檢測系統：晶圓襯底質量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質量。

碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。

電激發納秒瞬態吸收光譜系統采用電控延遲系統和獨立超連續白光光源，用于檢測樣品在亞納秒到毫秒尺度的光/電誘導動力學演化過程。